HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱功能及特點(diǎn)介紹

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度、溫度、壓力等條件下，檢測(cè)產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于PCB線路板、集成線路(芯片)、半導(dǎo)體封裝等測(cè)試，如測(cè)試半導(dǎo)體封裝，則用來(lái)測(cè)試半

導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿都膠體或

膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故障原因：爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因

污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國(guó)家安全容器規(guī)范。
2、多重保護(hù)功能：
內(nèi)箱安全裝置，箱門若未關(guān)緊機(jī)器則無(wú)法啟動(dòng);
當(dāng)內(nèi)箱壓力超過(guò)蕞大工作值自動(dòng)排氣泄壓;
各種超壓超溫，干燒漏電 及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)。
3、濕度自由選擇：
飽和與非飽和濕度可自由設(shè)定
4、知能化高：
支持電腦連接利用USB可將數(shù)據(jù)、曲線可導(dǎo)出保存。
5、通電測(cè)試：
6、可根據(jù)客戶需求選擇定制造多個(gè)測(cè)試端子，以滿足帶電測(cè)試功能。
7、壓力數(shù)據(jù)真實(shí)呈現(xiàn)：
壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測(cè)，確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度。